Э. М. Карташов, Б. Цой, В. В. Шевелев

Сортировать по:

Разрушение пленок и волокон: Структурно-статистические аспекты

Э. М. Карташов, Б. Цой, В. В. Шевелев

US $173.00
отправка через 16-24 дня

Всего страниц: 1

Продукт добавлен в корзину

Цена:

Перейти в корзину

Вход в личный кабинет

Забыли пароль?
Регистрация