Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем: Критерий качества и надежности
Оформить заказ
Автор:Куликов Игорь Валентинович
Издательство:Политехника
Страниц:172
Год:2017
Обложка:Мягкий переплет
Размер:70x100/16
SKU:RU961110
ISBN:9785732511154
Наша цена:US $39.00
Пункты выдачи магазин ТРОЙКА
Отправка почтой: June 17th от US $12.00, бесплатно при заказе от US $100.00.
Точная стоимость доставки будет рассчитана при оформлении заказа.
В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.